綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)
簡要描述:12“ 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng):最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試;操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn) ;可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
- 產(chǎn)品型號:CH-8
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時間:2023-06-20
- 訪 問 量:1305
特點/應(yīng)用 ◆ 12" 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng) 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試 ◆ 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動 ◆ 大手柄驅(qū)動,操作舒適,無回程差設(shè)計 ◆ 針座平臺快速、微調(diào)升降功能 ◆ 可搭配多種類型顯微鏡 ◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等 ◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計,可無縫升級 ◆ 探針臺可根據(jù)客戶要求定制。 |
12" 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)
顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn),Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環(huán)形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
X-Y-Z移動行程 | 12mm*12mm*12mm |
移動精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
吸附方式 | 磁力吸附/真空吸附 |
線纜 | 同軸線/三軸線 |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
接頭類型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
針尖材質(zhì) | 鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
加熱臺 |
顯示器 |
轉(zhuǎn)接頭 |
射頻測試配件 |
屏蔽箱 |
光學(xué)平臺 |
鍍金卡盤 |
光電測試配件 |
高壓測試配件 |
顯微鏡快速傾仰裝置 |
激光系統(tǒng) |
探針卡夾具 |